2018年11月11日-13日，NOM研究组一行22位老师与同学赴清华大学深圳研究生院参加了第三届全国偏振与椭偏测量研讨会。本次会议由清华大学深圳研究生院、华中科技大学和北京大学联合主办，广东省偏振光学检测与成像工程技术研究中心、深圳市无损检测与微创医学技术重点实验室、华中科技大学数字制造装备与技术国家重点实验室、北京大学地球与空间科学学院、暨南大学光电信息与传感广东普通高校重点实验室联合承办。这是继2016年“第二届全国偏振与椭偏测量研讨会”在广西大学召开后又一次全国范围的学术活动，不仅吸引了来自国内高校、科研院所和企事业单位的专家、学者，也吸引了来自美国、英国、西班牙等国的国外学者参加。研讨内容覆盖与偏振与椭偏研究的所有领域，包括基础理论、测量技术、信息提取、仪器开发和实际应用等多个方面，充分展示了在偏振与椭偏测量研究领域所取得的最新进展与成果。
刘世元教授担任本次大会共主席，做了题为“新型椭偏仪研制与应用：挑战与进展”的大会报告，详细介绍了最近两年NOM研究组在新型椭偏仪研制与应用研究的研究进展。一是研制了一种高分辨层析成像穆勒矩阵椭偏仪，将穆勒矩阵椭偏、光学散射测量和高分辨显微成像技术相结合，可实现多入射角、多方位角、多波长、多散射级次全穆勒矩阵测量，将横向分辨率突破至亚微米量级。二是研制了一种超快椭偏仪，通过结合啁啾频域干涉与椭偏测量技术，可实现具有皮秒时间分辨率的超快测量过程。最后，报告展示出在纳米结构特征尺寸及套刻误差测量、偏振器件偏振特性测量表征以及二维材料、钙钛矿等新型光电材料的光学性质表征等方面的应用实例。
陈修国老师做了题为“层析穆勒矩阵散射仪研制及其在纳米结构测量中的应用”的邀请报告，谷洪刚博士、石雅婷博士和王勐博士分别做了题为“基于穆勒矩阵元素的套刻标记优化设计”、“光谱椭偏在新型二维材料光学特性表征中的应用”和“弯曲银纳米颗粒阵列结构的穆勒矩阵椭偏光谱表征”的口头报告，充分展示了NOM组在近两年做出的突出成果。
此外，NOM组博士生钟志成、张松、刘佳敏、张林、王才、宋宝坤、赵雪楠、陈超、方明胜，硕士生廖进宝、周军宏、吴天赐、刘柠林、马昭、祝思敏、周志康、盛胜以张贴海报的形式在会上展示了自己近期的研究工作。经过学术委员会投票评议，宋宝坤同学荣获本次大会设立的最佳学生报告奖。
