2010年9月12日至15日，香港城市大学陈忍昌(Y. C. Chan)教授一行来访华中科技大学，参加香港城市大学和华中科技大学联合培养博士研究生计划研讨会，并应刘世元教授邀请对NOM研究组进行了参观访问与学术交流。
陈忍昌教授早年就读于英国伦敦大学帝国理工学院，于1983年获得该校电机工程学博士学位。1991年加入香港城市理工学院（现为香港城市大学）电子工程学系，现为该系电子工程讲席教授(Chair Professor)及电子封装及组装暨失效分析及可靠性工程中心(EPA Centre)主任，研究兴趣包括先进电子封装及组装技术、失效分析及可靠性工程，在电子产品可靠性研究方面成就卓越。陈教授现为IEEE Fellow和IEE Fellow，曾被委任为IEE行政会议成员并于1995/96年间担任主席一职，是香港电子封装与制造业商会创会(2001)主席及现任荣誉主席。此外，他还是现任香港工程师学会(HKIE)的考核及教育委员会成员，负责电子工程领域。在国际上，陈教授亦是多个国际学术会议的主席，这些会议涉及范畴主要包括电子产品的可靠性及绿色电子。
香港城市大学EPA Centre网站链接: http://www.ee.cityu.edu.hk/~epa
陈忍昌教授个人主页: http://www.ee.cityu.edu.hk/~ycchan