7月7日上午，应NOM研究组刘世元教授邀请，HORIBA科技仪器（上海）总经理Ramdane BENFERHAT博士来校作了题为“光谱椭偏/偏振仪在纳米级尺寸材料及结构分析中的应用：现状、潜力及前景（Spectroscopic ellipsometry and polarimetry for materials and systems analysis at the nanometer scale: state-of-art, potential, and perspectives）”的专题讲座。来自于数字制造装备与技术国家重点实验室、武汉光电国家实验室（筹）和机械学院相关专业的30余名教师、研究生聆听了报告。
在讲座上，BENFERHAT简要介绍了HORIBA科技公司所生产的多种光学测量仪器，然后从原理、应用两方面对光谱椭偏仪和偏振仪等典型光学仪器作了深入而系统的分析、阐释与介绍。在互动环节中，Ramdane耐心细致地解答了现场师生提出的诸多问题。整场报告内容充实而生动，令听众受益颇多。
Ramdane BENFERHAT于1987年在法国巴黎第六大学获得博士学位，随后加入位于法国巴黎的高科技公司--Jobin Yvon公司，主要致力于光栅及光谱仪的研究与开发工作。Jobin Yvon公司于1997年加入了世界第六大仪器制造集团——Horiba公司，面向全球供应各种类型的衍射光栅、离子刻蚀全息光栅以及各种类型的光谱仪产品。
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